新型远红外线分光辐射计

【《日本工业新闻》１０月９日报道】题：日本推出两种远红外线分光辐射计
最近，日本电子公司推出两种可以在常温（大约４０摄氏度）下高精度地测定精密陶瓷等材料的远红外线分光辐射率和辐射强度的远红外线分光辐射计。
现在，各个领域都在研究和开发高性能远红外线辐射体，尤其是力求精确测定在常温下的辐射率和辐射强度。但是，以往在常温下测定会受到背景辐射（样品以外物品发出的光）的影响。
这家公司推出的这两种装置采用了可以排除背景辐射影响的测量方式，所以能够在常温甚至高温下高精度地测定出辐射特点。此外，由于没有必要把试样温度与特定的黑体温度取得一致，测定时间可大为缩短。