参考消息标题

微弱电流探测器有助于提高芯片质量

字号+作者：参考消息来源：参考消息 1994-11-25 08:00 评论(创建话题) 收藏成功收藏本文

微弱电流探测器有助于提高芯片质量英国《新科学家》周刊１０月１日一期报道，美国新墨西哥州桑迪亚实验所开发的这种仪器利用扫描力显微镜观察和测量集成电路'...

微弱电流探测器有助于提高芯片质量

英国《新科学家》周刊１０月１日一期报道，美国新墨西哥州桑迪亚实验所开发的这种仪器利用扫描力显微镜观察和测量集成电路中的微小电流，它不需要触及电路。这将有助于制造商生产更好的芯片，并能对故障芯片进行分析。

参考消息参考消息1957-2002在线全文文字检索参考消息在线全文文字检索

本网除标明“PLTYW原创”的文章外，其它文章均为转载或者爬虫(PBot)抓取；本文只代表作者个人观点，不代表本站观点，仅供大家学习参考。本网站属非谋利性质，旨在传播马克思主义和共产主义历史文献和参考资料。凡刊登的著作文献侵犯了作者、译者或版权持有人权益的，可来信联系本站删除。本站邮箱[email protected]