高级析像显微镜

【《日刊工业新闻》１０月２２日报道】东京农工大学副教授梅田伦弘领导的研究小组成功地研制出了析像能力高达０．２微米的新型高级折像显微镜
——扫瞄型维纳条纹显微镜。这种显微镜的析像能力在光学显微镜中是最高的。‘它的特点是利用对试料投光时投射的光和反射光重叠部分所产生的维纳条纹。将顶端极尖细的光纤维探针探入维纳条纹，并通过检查散乱光来测出试料的表面形状。该显微镜对无法使用扫瞄型隧道显微镜观测的活生物的细微结构和绝缘体的微细表面等有最出色观测效果。